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  • UV/VIS/NIR Spectrophotometer : UH4150
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UV/VIS/NIR Spectrophotometer : UH4150

Feature
주요특징

딕텍터 변환 시 신호 레벨의 차이가 적기 떄문에, 디텍터 변환 파장에서도 매우 정확한 측정이 가능합니다.



자외 가시 영역~근적외 영역에 걸친 광범위한 측정 파장에 대응하기 위해 적분구에 복수의 검지기를 탑재하고 있습니다.

UH4150 모델은 적분구 구조의 노하우와 신호 처리 기술 등에 의해 검출기 변환 시 발생하는 측광값의 차(변환 단차)를 최소한으로 줄이고 있습니다


딕텍터 변환 파장 부근의 측정데이터

(Gold Nanorods의 흡수 스펙트럼)


낮은 미광(Low stray light)과 낮은 편광(Low polarization) 특성을 가진 Hitachi사의 High-Performance Prism-Grating(P-G) Double Monochromator System


UH4150은 Prism-Grating(P-G) Double Monochromator를 적용하여, U-4100의 기술력을 이어가고 있습니다.

프리즘-그레이팅(P-G) 구조 채용으로 일반적으로 사용되는 그레이팅­-그레이팅(G-G) 구조보다 S편광 및 P편광에서 빛 세기의 큰 변화가 감소 했습니다.

이를 통해서 UH4150은 투과율이 낮고, 반사율이 적은 시료에서도 Noise가 적은 데이터를 제공할 수 있습니다.


평행 광(Collimated light)은 반사된 빛과 분산된 빛의 정확한 측정을 가능하게 합니다.


입사각은 고체시료의 정반사율(Specular reflectance)측정에서 중요합니다.

초점이 맞춰진 빛의 경우 입사각은 렌즈의 초점 거리 등에 따라 달라지며, 이로 인해 다증 유전체막(Dielectric multilayer film) 및 Prism 등 광학박(Optical thin film)의 설계 시뮬레이션 값은 실제 측정과 다를 수 있습니다.

그러나 평행 광(Collimated light)의 경우에는 입사각은 시료에 대해 동일하기 때문에 정반사율의 매우 정확한 측측정을 유도합니다.

또한 평행 광은 확산율(Hazae)의 측정 및 렌즈의 투과율 측정에도 유용합니다.

정반사 측정의 예


측정 목적에 적합한 디텍터의 선택 기능.


다른 재질, 크기, 형상을 가진 8종류의 디텍터를 이용할 수 있습니다

부속 장치에 대한 자세한 사항은 문의하시기 바랍니다.


새로운 인체 공학적인 디자인의 적용


Sample Compartment Door의 개폐가 쉬워 졌으며, 더불어 작업의 편리성 향상을 향상 하였습니다.

시료나 부속 장치의 교환 등을 가상하여 인간공학에 기초한 디자인을 도입 했습니다.


다양한 U-4100 악세사리 호환이 가능


공통 악세사리는 U-4100, UH4150 두 모델 모두에서 사용할 수 있습니다. 

종전에 이용하던 부속 장치를 UH4150형에서도 사용할 수 있습니다. 부속 장치는 착탈・교환이 가능하기 때문에 측정 종류를 다양화할 수 있습니다


U-4100 모델 비해 보다 높은 데이터 처리 능력


UH4150은 U-4100의 고성능 광학 시스템을 유지하면서 보다 높은 데이터 처리율을 제공합니다.


이전 U-4100 모델에서 1 nm의 데이터 간격으로 측정하기 위해서는 스캔 속도를 600 nm/min로 설정해야 했습니다.


UH4150에서는 데이터 읽기 방식을 개선하여 기존의 두 배인 1,200 nm/min으로 동일한 데이터 취득이 가능해져 측정 시간 단축을 실현했습니다.


아래 그림에 나타내는 240~2,600 nm 범위의 측정이 약 2분이면 가능합니다. 


UV・VIS・NIR 파장범위의 측정을 필요로 하는 샘플에 효과적입니다.


600 nm/min에서의 차열 부재의 반사 스펙트럼


1,200 nm/min에서의 차열 부재의 반사 스펙트럼












Application
어플리케이션

미소 시료의 투과율 측정

미소 샘플 투과율 측정 시스템에 의해 미소 유리 조각이나 픽업 렌즈 등 미소한 시료의 투과율 측정이 가능합니다.


각종 픽업 렌즈의 측정 예

미소 샘플 투과 측정 부속 장치

사양
마스크 종류측정 가능 시료 크기
φ3mm 마스크
(표준 부속)		 φ5~φ20
두께 3 mm 이하
1mm 마스크
(옵션)		 φ3~φ20
두께 3 mm 이하

  • * 광원 마스크가 부속된 광원 마스크 φ4 mm로 교환할 필요가 있습니다.

확산 반사율 측정

적분구(시료 쪽 각도 0°)의 뒷면에 시료를 설치하면 분말 시료 등의 확산 반사율을 측정할 수 있습니다.


산화티탄의 확산 반사율 측정 예

φ60 표준 적분구(전반사 확산 반사 공용)

사양
입사각 0°
파장 범위
240~2,600 nm

광학 박막 산업


광학 박막 산업은 카메라, 안경 렌즈, 프로젝터, 거울과 같은 광학 부품에 꼭 필요한 기술입니다.

정확한 광학 특성 평가는 광학 부품의 첨단 개발과 품질 제어에 있어 점점 더 중요해지고 있습니다.



Specification
제품사양



   
    
  
  
  
  
  
  


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